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能量色散X荧光光谱仪 XRF
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X射线荧光镀层测厚仪
型号：EDX-T
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产物申明、手艺参数及设置装备摆设
EDX-T是天瑞仪器股分无限公司集30多年X荧光膜厚丈量手艺,研发的一款全新上照式X射线荧光阐发仪,该款仪器设置装备摆设嵌入集成式多准直孔、滤光片主动切换装配和双摄像头,不只能揭示测试部位的细节,也能显现出高清广角视线;主动化的X/Y/Z轴的三维挪动,实现对立体、高低、拐角、弧面等各类形状的样品停止疾速对焦精准阐发。能更好地知足半导体、芯片及PCB等行业的非打仗微区镀层厚度测试需要。
采取基本要素
阐发超薄镀层,如镀层≤0.01um的Au,Pd,Rh,Pt等镀层;
丈量超小样品,直径≤0.1mm
印刷线路板上RoHS请求的痕量阐发
合金资料的成份阐发和电镀液阐发
丈量电子产业或半导体产业中的功效性镀层
指导思想短板
全新上照式设想,可顺应更多异型细小样品的测试。可变焦高精双摄像头,搭配间隔补正体系,显现全高清广角视线,更好地知足细小产物、台阶、深槽、沉孔样品的测试需要。自力的高精度伺服机电扩展XY平台挪动规模,可多点编程、网格编程、矩阵编程,主动实现客户多个产物及多个测试点的持续丈量,大大进步测样效力。自带数据校订体系,保障丈量数据的不变性。
采取基本要素
阐发超薄镀层,如镀层≤0.01um的Au,Pd,Rh,Pt等镀层;
丈量超小样品,直径≤0.1mm
印刷线路板上RoHS请求的痕量阐发
合金资料的成份阐发和电镀液阐发
丈量电子产业或半导体产业中的功效性镀层
指导思想短板
全新上照式设想,可顺应更多异型细小样品的测试。可变焦高精双摄像头,搭配间隔补正体系,显现全高清广角视线,更好地知足细小产物、台阶、深槽、沉孔样品的测试需要。自力的高精度伺服机电扩展XY平台挪动规模,可多点编程、网格编程、矩阵编程,主动实现客户多个产物及多个测试点的持续丈量,大大进步测样效力。自带数据校订体系,保障丈量数据的不变性。
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