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镀层测厚
能量色散X荧光光谱仪
型号：EDX 2000A
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产物申明、手艺参数及设置装备摆设
EDX2000A能量色散X荧光光谱仪(全主动微区膜厚测试仪)对立体、高低、拐角、弧面等各类简略及庞杂形状的样品停止疾速对焦精准阐发，知足半导体、芯片及PCB等行业的非打仗微区镀层厚度测试需要。经由过程主动化的X轴Y轴Z轴的三维挪动，双激光定位和掩护体系。
利用范畴
电镀行业、电子通信、航天新动力、五金卫浴、电器装备
汽车制作、磁性资料、贵金属电镀、高校及科研院所等
超高硬件设置装备摆设
接纳Fast-SDD探测器,高达129eV分辩率,能精准地剖析每一个元素的特点旌旗灯号,针对庞杂底材和多层庞杂镀层,一样能够轻松测试。
搭配大功率X光管,能很好的保证旌旗灯号输入和激起的不变性,削减仪器毛病率。
高精度主动化的X、Y、Z轴的三维联动,更精准疾速地实现对细小异型(如弧形、拱形、罗纹、球面等)测试点的定位。
设想亮点
上照式设想，可顺应更多异型细小样品的测试。相较传统光路，旌旗灯号收罗效力晋升2倍以上。可变焦高精摄像头，搭配间隔补正体系，知足细小产物，台阶，深槽，沉孔样品的测试需要。可编程主动位移平台，细小麋集型可多点测试，大大进步测样效力。自带数据校订体系。
软件界面
人道化的软件界面，让操纵变得加倍便利。
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